Microscopio Electrónico de barrido.

no es necesario cortar el objeto en capas para observarlo con un SEM si no que puede colocarse en el microscopio con muy pocos preparativos. EL SEM explora la superficie de la imagen punto por punto, a la inversa del TEM, que cada vez examina una gran parte de la muestra. Su funcionamiento se basa en el recorrido de la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de manera parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de un televisor. Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o provocar la aparición de electrones secundarios. Los electrones perdidos y los secundarios son recogidos y contados por un dispositivo electrónico situado a los lados del espécimen. Cada punto leído de la muestra corresponde a un pixel en la pantalla. A medida que el haz de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor.

muy útil porque, a diferencia de los TEM o los microscopios ópticos, produce imágenes tridimensionales realistas de la superficie del objeto. Se han desarrollado otros tipos de microscopios electrónicos. Un  microscopio electrónico de barrido y transmisión (Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) combina los elementos de un SEM y un TEM y puede mostrar los átomos individuales de un objeto. EL micro analizador de sonda de electrones –microscopio electrónico que cuenta con un analizador de espectro de rayos X– puede analizar los rayos X de alta energía que produce el objeto al ser bombardeado con electrones. Dado que la identidad de los diferentes átomos y moléculas de un material se puede conocer utilizando sus emisiones de rayos X, los analizadores de sonda de electrones no solo proporcionan una imagen ampliada de la muestra – como hace un microscopio electrónico– sino que también suministra información sobre la composición química del material.