Microscopio de sonda de barrido

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en los microscopios de sonda de barrido se utiliza una sonda que recorre la superficie de una muestra, proporcionando una imagen tridimensional de la red de átomos o moléculas que la componen. La sonda es una afiliada punta de metal que puede tener un grosor de un solo átomo en su extremo. Un tipo importante de microscopio de sonda de barrido es el microscopio de túnel de barrido (siglas en ingles de Scanning Tunelling Microscope, STM) desarrollado en 1981.

Este microscopio utiliza un fenómeno de la física cuántica, denominado efecto túnel, para proporcionar

imágenes detalladas de substancias conductoras de electricidad.La sonda se coloca a una distancia de pocos angstroms de la superficie de material y se aplica un voltaje pequeño entre la superficie y la sonda. A causa de la escasa distancia entre el material y la sonda, algunos electrones se escapan a través del hueco, generando una corriente . La magnitud de la corriente del efecto túnel depende de la distancia entre la superficie y la sonda.

El flujo de corriente es mayor cuando la sonda se acerca al material, y disminuya cuando la sonda se aleja. A medida que el mecanismo de barrido mueve la sonda por encima de la superficie, se ajusta de modo automático la altura de la sonda para mantener constante la corriente del efecto túnel. Estos ajustes minúsculos permiten dibujar las ondulaciones de la superficie . Después de muchas pasadas hacia delante y hacia atrás, se utiliza un computador para crear una representación tridimensional del material.

Otro tipo de microscopio de sonda de barrido es el microscopio de fuerza atómica ( Atomic Force Microscope, AFM), que no emplea la corriente de efecto tunel y que por lo tanto puede utilizarse también en materiales conductores .